Expected retrieval accuracies of bidirectional reflectance and albedo from EOS-MODIS and MISR angular sampling
Précision attendue des calculs de réflectance et d'albédo bidirectionnelles à partir des échantillonnages angulaires en provenance d'EOS-MODIS et MISR.
Lucht [W.]
Editeur
-
Année de publication
1998
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